xrf熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測(cè)量方法,應(yīng)用于地質(zhì)、環(huán)境、石化、金屬、礦物、水泥、玻璃等眾多工業(yè)及科研領(lǐng)域。
當(dāng)材料暴露在短波長(zhǎng)X光檢查,或伽馬射線,其組成原子可能發(fā)生電離,如果原子是暴露于輻射與能源大于它的電離勢(shì),足以驅(qū)逐內(nèi)層軌道的電子,然而這使原子的電子結(jié)構(gòu)不穩(wěn)定,在外軌道的電子會(huì)“回補(bǔ)”進(jìn)入低軌道,以填補(bǔ)下來(lái)的洞。在“回補(bǔ)”的過(guò)程會(huì)釋出多余的能源,光子能量是相等兩個(gè)軌道的能量差異的。因此,物質(zhì)放射出的輻射,這是原子的能量特性。
xrf熒光光譜儀工作原理:
用X射線照射試樣時(shí),試樣可以被激發(fā)出各種波長(zhǎng)的熒光X射線,需要把混合的X射線按波長(zhǎng)分開(kāi),分別測(cè)量不同波的X射線的強(qiáng)度,以進(jìn)行定性和定量分析,為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。由于X光具有一定波長(zhǎng),同時(shí)又有一定能量,因此,X射線熒光光譜儀有兩種基本類(lèi)型:波長(zhǎng)色散型和能量色散型。
xrf熒光光譜儀對(duì)象主要有各種磁性材料、鈦鎳記憶合金、混合稀土分量、貴金屬飾品和合金等,以及各種形態(tài)樣品的無(wú)標(biāo)半定量分析,對(duì)于均勻的顆粒度較小的粉末或合金,結(jié)果接近于定量分析的準(zhǔn)確度。X熒光分析快速,某些樣品當(dāng)天就可以得到分析結(jié)果。適合課題研究和生產(chǎn)監(jiān)控。熒光分析儀分為波長(zhǎng)色散、能量色散、非色散X熒光、全反射X熒光。波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜采用晶體或人工擬晶體根據(jù)布拉格定律將不同能量的譜線分開(kāi),然后進(jìn)行測(cè)量。波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜一般采用X射線管作激發(fā)源,可分為順序式、同時(shí)式譜儀、和順序式與同時(shí)式相結(jié)合的譜儀三種類(lèi)型。
xrf熒光光譜儀產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn):
1、采樣方式靈活,對(duì)于稀有和貴重金屬的檢測(cè)和分析可以節(jié)約取樣帶來(lái)的損耗。
2、測(cè)試速率高,可設(shè)定多通道瞬間多點(diǎn)采集,并通過(guò)計(jì)算器實(shí)時(shí)輸出。
3、對(duì)于一些機(jī)械零件可以做到無(wú)損檢測(cè),而不破壞樣品,便于進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)。
4、分析速度較快,比較適用做爐前分析或現(xiàn)場(chǎng)分析,從而達(dá)到快速檢測(cè)。
5、分析結(jié)果的準(zhǔn)確性是建立在化學(xué)分析標(biāo)樣的基礎(chǔ)上。